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X射线荧光光谱分析

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多项选择题

在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。

A.均匀性
B.粒度效应
C.辐射
D.吸收-增强效应

相关考题

单项选择题 在X射线荧光分析中,重元素谱线复杂而且较为接近,所以要选择()准直器以提高分辨率。

多项选择题 在X射线荧光分析中,选择准直器时应在不发生()重叠前提下,分辨率和()之间要折中考虑,不要太强调分辨率。

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