多项选择题
在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。
A.均匀性 B.粒度效应 C.辐射 D.吸收-增强效应
单项选择题 在X射线荧光分析中,重元素谱线复杂而且较为接近,所以要选择()准直器以提高分辨率。
多项选择题 在X射线荧光分析中,选择准直器时应在不发生()重叠前提下,分辨率和()之间要折中考虑,不要太强调分辨率。