单项选择题
STEM用电子束在样品的表面扫描进行微观形貌分析时，探测器置于（）。
A.试样左上方，接受背散射电子束流荧光成像B.试样下方，接受透射电子束流荧光成像C.试样右上方，接受背散射电子束流荧光成像D.试样正上方，接受反射电子束流荧光成像
单项选择题 高角环形暗场像的像衬度是（）。
单项选择题 电子束作用物质的区域（）。
单项选择题 XPS可分析的元素为（）。
