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射线材料(三级)知识竞赛

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判断题

在同一张底片上,做两个不同位置的X射线照相,可以确定缺陷的深度,根据缺陷阴影的移动,相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度,这种方法称之为深度定位视差法。

【参考答案】

正确

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判断题 当用观片灯观察底片时,为了获得更直观的效果,在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法,称之为立体射线照相法。

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