单项选择题
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
A.近场干扰 B.材质衰减 C.盲区 D.折射
单项选择题 调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（）
单项选择题 仪器的垂直线性好坏会影响：（）
单项选择题 仪器水平线性的好坏直接影响：（）
