判断题
现象分析中，可能出现故障的位置，可能性随数字的顺序升高。
错误(↓↓↓ 点击‘点击查看答案’看答案解析 ↓↓↓)
判断题 用Hi-DS-Scan 测量电阻，仅在通道B上进行。
判断题 Hi-DS-Scan 可以强制驱动某个执行器。
判断题 用Hi-DS-Scan 测量无需选择通道，可直接测量。
