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纳米材料与技术

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单项选择题

原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)也称(),是由IBM苏黎士研究实验室的Gerd Binning、Calvin Quate和Christoph Gerber于1986年发明的。

A.扫描电子显微镜
B.扫描力显微镜
C.扫描隧道显微镜
D.扫描透射显微镜

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