判断题 多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。

判断题 CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。

判断题 标准试块的材质应尽可能与被检工件相同或相近。