black

现代材料分析方法

登录

填空题

XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、()、()、电子探针分析和差热分析分析方法。

【参考答案】

扫描电子显微分析;透射电子显微分析

相关考题

判断题 在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

判断题 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。

判断题 透镜的数值孔径与折射率有关。

All Rights Reserved 版权所有©PP题库网库(pptiku.com)

备案号:湘ICP备14005140号-5

经营许可证号:湘B2-20140064