判断题 当滤膜上采集的粉尘量大于0.1mg时，焦磷酸法、红外分光光度法和X线衍射法均适用于样品中游离二氧化硅含量测定。

判断题 当采用焦磷酸法测定粉尘中游离二氧化硅含量，用铂坩埚处理样品时，过滤沉渣必须洗至无磷酸根反应，否则会损坏铂坩埚。

判断题 焦磷酸法测定粉尘中游离二氧化硅含量时，可能使用到的化学试剂有焦磷酸、氢氟酸、硝酸铵和盐酸。