判断题 X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。

判断题 X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。

判断题 砝码未校正会产生系统误差。