单项选择题

A.采用晶片直径为φ20mm 的探头对环缝检测,对比试块的曲率半径应在76mm~126mm 之间。
B.采用晶片直径为φ14mm 的探头对环缝检测,对比试块的曲率半径应在76mm~126mm 之间。
C.采用晶片直径为φ18mm 的探头对环缝检测,对比试块的曲率半径可为100mm。
D.采用晶片直径为φ22mm 的探头对环缝检测,对比试块的曲率半径可为84mm。