问答题
空位形成浓度依据什么原理测定？用什么方法测定？
原理：由，可知，只要测出不同温度下得lnCV-1/T曲线，就可以得到空位形成能Ef(↓↓↓ 点击下方‘点击查看答案’看完整答案 ↓↓↓)
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问答题 说明晶体缺陷的概念和分类方法，简述各种晶体缺陷的概念、特征及其对性能的影响。
问答题 简述薄膜表面（晶粒）结构与温度的关系。
问答题 薄膜的晶态结构与体材料有区别吗？如果有，是怎样的区别？
