相关考题
-
单项选择题
透照时有关像质计的摆放,以下表述正确的是()
A.像质计应放在被透照物显示灵敏度较低的部位
B.像质计应放在被透照物显示灵敏度较高的部位
C.像质计应放在射线穿过厚度较薄的部位
D.在对厚薄检测时,像质计应放在厚度较薄的部位 -
单项选择题
射线照相不能检出的缺陷是()
A.疏松
B.缩孔
C.未熔合
D.钢板分层 -
单项选择题
连续X射线穿透物质前后,下列哪种说法是错误的()
A.平均波长变短
B.射线强度变小
C.平均衰减系数变大
D.平均半价层变大
