相关考题
-
多项选择题
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A.均匀性
B.粒度效应
C.辐射
D.吸收-增强效应 -
单项选择题
在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
A.细
B.粗
C.超粗 -
多项选择题
在X射线荧光分析中，选择准直器时应在不发生（）重叠前提下，分辨率和（）之间要折中考虑，不要太强调分辨率。
A.谱线
B.峰
C.灵敏度
D.强度
