填空题 XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、（）、（）、电子探针分析和差热分析分析方法。

判断题 在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

判断题 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。