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单项选择题
X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。
A.相对
B.绝对
C.物理
D.化学 -
多项选择题
X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。
A.一点
B.工作曲线
C.两点
D.标准加入 -
多项选择题
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A.均匀性
B.粒度效应
C.辐射
D.吸收-增强效应
