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全部科目 > 通信电子计算机技能考试 > 集成电路制造工艺员 > 集成电路制造工艺员(三级)

单项选择题

损伤的分布与注入离子在在靶内的()的分布密切相关。

    A.能量淀积
    B.动量淀积
    C.能量振荡
    D.动量振荡

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